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低温測定装置  Low temperature measurements

1.5 K-325 Kの温度範囲、11 Tまでの磁場中で輸送特性を手軽に測定.大口径:63.5mmφ
260 mKまでの極低温、8 Tまでの磁場中で輸送特性を測定.トップロードなので試料交換が簡単.
8 Tの磁場中で6 T/mの磁場勾配を発生.ファラデー法の磁化測定に最適.大口径:63.5mmφ.
水平7 T,垂直3 Tの超伝導磁石を組み合わせて任意方向の磁場を 試料にかけることができます.
最大磁場: 5.5 T,温度範囲: 1.8−400 KでDC磁化測定ができます.
試料上を走査するSQUID素子を用いて,試料表面の磁場分布 を観察する磁気顕微鏡.
準備中

試料作製  Sample preparation

電子ビームガンによりTi,Pt,Wといった高融点金属の蒸着が可能.
古い装置を研究室でリファインしました。-150℃〜500℃の基板温度での蒸着だけでなく各種雰囲気中アニールもできます。
金属薄膜の作製に使用.
主に銅酸化物高温超伝導薄膜の作製に使用.
最高温度1000℃〜1350℃の電気炉.結晶試料作製、熱処理が可能.
真空を含む、各種雰囲気中で熱処理が可能.特に短時間ので1200℃までの加熱と冷却が特徴.

試料評価・装置評価  Characterization & evaluation

主に粉末X線回折法による構造解析が可能.
1 nmから10 μmの範囲で薄膜の厚さが測定可能.
低温装置,真空装置の高精度の漏れ検査が可能.

手作り装置  Handmade devices

室温〜4.2 Kまでの電気抵抗の温度依存性が手軽にできます.
実験内容に合わせてシンプルな輸送特性用から角度回転式等の測定プローブを手づくりしています。
  
  
局所的端子付け装置.50 μm幅で半田付けが可能です。


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